IEC Portal de publicacions > Botiga

Cerca ràpida
Títol Autor
Col·lecció Matèria
ISBN Any d'edició
Tipus de Publicació Criteri
 
 
 
 
Resultat de la cerca Registres 1 a 6 (6 registres en total)
Caracterització òptica i creixement de a-Si:H
-- Article --
 Autor/a: Bertran Serra, Enric ; Canillas Biosca, Adolf ; Andújar Bella, José Luis ; Morenza i Gil, Josep Lluís
 Matèria:   Trobades Científiques de la Mediterrània (1988 : Maó)
Òptica
 Col·lecció: Actes ; 10 		Veure fitxa
Fitxa completa
El·lipsometria ràpida i espectroscòpica per a la caracterització de capes fines
-- Article --
 Autor/a: Antó i Roca, Joan ; Bertran Serra, Enric ; Morenza i Gil, Josep Lluís
 Matèria:   El·lipsometria - Aplicacions científiques
Pel·lícules fines
Veure fitxa
Fitxa completa
Espectrometria de masses quadrupolar aplicada a l'estudi de plasmes de baixa pressió i baixa temperatura
-- Article --
 Autor/a: Costa i Balanzat, Josep ; Bertran Serra, Enric ; Andújar Bella, José Luis ; Sardin Charles, Georges
 Matèria:   Espectrometria de masses
Plasma (Gasos ionitzats)
Veure fitxa
Fitxa completa
L'El·lipsometria, una eina de caracterització òptica dels materials
-- Article --
 Autor/a: Pascual Miralles, Esther ; Canillas Biosca, Adolf ; Bertran Serra, Enric ; Campmany i Guillot, Josep
 Matèria:   Materials - Anàlisi - Tècnica
El·lipsometria - Aparells i instruments
El·lipsometria
Veure fitxa
Fitxa completa
Preparació i caracterització de capes fines de a-Si:H
-- Article --
 Autor/a: Andújar Bella, José Luis ; Andreu Batallé, Jordi ; Asensi López, José Miguel ; Bertomeu Balagueró, Joan ; Bertran Serra, Enric ; Canillas Biosca, Adolf ; Delgado Nieto, Juan Carlos ; Kasaneva Reinoso, Jorge Francisco ; Morenza i Gil, Josep Lluís ; Roch Cunill, Carles ; Sardin, Georges ; Serra Rodríguez, Julia
 Matèria:   Silici - Propietats elèctriques
Fotoconductivitat
 Col·lecció: Actes ; 12 		Veure fitxa
Fitxa completa
Tècnica d'anàlisi el·lipsomètrica de fase modulada en el rang visible - ultraviolat
-- Article --
 Autor/a: Campmany i Guillot, Josep ; Canillas Biosca, Adolf ; Pascual Miralles, Esther ; Bertran Serra, Enric
 Matèria:   El·lipsometria
Veure fitxa
Fitxa completa
Pàgina 1 de 1  
   Primera Anterior
Anar a la pàgina:
Següent Última

Dades de l´usuari/ària
Per a navegar pel portal necessiteu Mozilla o Microsoft Internet Explorer (recomanem la versió 5.0 o superior).
Amb altres navegadors i/o resolucions podria ser que visualitzéssiu incorrectament alguna de les pàgines del portal.